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Fischer測厚儀型號介紹

	價格：0 元(人民幣)	產(chǎn)地：德國
	最少起訂量：1套	發(fā)貨地：上海
	上架時間：2017-06-28 11:16:49	瀏覽量：212
	篤摯儀器（上海）有限公司
	經(jīng)營模式：貿(mào)易公司	公司類型：私營合伙企業(yè)
	所屬行業(yè)：量具	主要客戶：生產(chǎn)加工企業(yè)
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詳細介紹

Fischer測厚儀型號介紹

Fischer測厚儀型號介紹：

類型	產(chǎn)品型號	簡介
袖珍式儀器	DUALSCOPE MP0	基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。
袖珍式儀器	DUALSCOPE MP0R	基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。
袖珍式儀器	DUALSCOPE MP0R-FP	基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量
手持式儀器	DELTASCOPE FMP10	用于測量非鐵磁性金屬涂層，例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。（采用磁感應(yīng)法，符合DIN EN ISO 2178，ASTM D7091 標準）
手持式儀器	ISOSCOPE FMP10	用于測量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層，鋁上的陽極氧化膜和導電基材上的非導電涂層。（采用電渦流法測量，符合DIN EN ISO 2360, ASTM D7091標準）
手持式儀器	DUALSCOPE FMP20	自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測量
手持式儀器	DELTASCOPE FMP30	用于測量非鐵磁性金屬涂層，例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。（采用磁感應(yīng)法，符合DIN EN ISO 2178，ASTM D7091標準）
手持式儀器	ISOSCOPE FMP30	用于測量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層，鋁上的陽極氧化膜和導電基材上的非導電涂層。（采用電渦流法測量，符合 DIN EN ISO 2360, ASTM D7091標準）
手持式儀器	DUALSCOPE FMP40	自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和導電基材上的涂層進行測量。
手持式儀器	DUALSCOPE FMP100	自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測量。
手持式儀器	DUALSCOPE FMP15O	一臺儀器具有三種測量方法（電渦流法、磁感應(yīng)和霍爾效應(yīng)）。采用霍爾效應(yīng)，擴展了可測量范圍。所有模塊都根據(jù) DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準進行測量
手持式儀器	PHASCOPE PMP10	手持式設(shè)備，用于非破壞性的測量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導電涂層的厚度
手持式儀器	PHASCOPE PMP10 DUPLEX	可無損測量鋼鐵上雙涂層（鍍鋅再鍍漆）厚度的手持式儀器
臺式儀器	FISCHERSCOPE MMS PC2	高級臺式設(shè)備，用于通用的涂層厚度測量和材料測試，具有彩色觸摸屏、可進行個性化配置并帶有各種設(shè)備接口
β射線反向散射法	BETASCOPE	BETASCOPE作為臺式儀器MMS和MMS PC2的測量模塊，是根據(jù)β背散射法，由不同材料間的差異，來測量涂鍍層厚度的，特別適用于測量較薄的有機涂層。
庫倫法	COULOSCOPE CMS	臺式儀器，使用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，無論鍍層結(jié)構(gòu)是單鍍層還是多鍍層。
庫倫法	COULOSCOPE CMS STEP	測量法對多層涂鍍層系統(tǒng)的電位差進行測量，以及用于金屬或非金屬基材上所有的金屬涂鍍層的庫侖電量涂鍍層厚度測量（單層或多層系統(tǒng)）
微電阻法	SR-SCOPE RMP30-S	用于測量線路板上銅層厚度的手持式儀器，它無損、快速、精確并且不會受到背面銅層的影響。
探頭	高精度探頭	任何一個電磁測量系統(tǒng)的核心都會是探頭，其信號質(zhì)量最終決定了計量方案的整體測量質(zhì)量。進過多年的研發(fā)和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務(wù)中實現(xiàn)具有最高精確度的測量結(jié)果

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