| tagformance pro測(cè)試系統(tǒng) rfid測(cè)試系統(tǒng) 北京中科國技信息系統(tǒng)有限公司 |
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北京中科國技信息系統(tǒng)有限公司
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tagformance pro測(cè)試系統(tǒng) rfid測(cè)試系統(tǒng) 北京中科國技信息系統(tǒng)有限公司 tagformance pro標(biāo)簽性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是voyantic公司的明星產(chǎn)品，用于實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)uhf和hf/nfc兩個(gè)頻段的標(biāo)簽性能。其中，uhf標(biāo)簽性能測(cè)試的主要參數(shù)有標(biāo)簽激活靈敏度、標(biāo)簽激活電場(chǎng)強(qiáng)度、標(biāo)簽反向散射功率、標(biāo)簽前向反向識(shí)讀距離、天線接收反向散射功率、天線接收反向散射信號(hào)相位、天線信號(hào)反射截面積等。hf/nfc標(biāo)簽性能測(cè)試的主要參數(shù)有諧振頻點(diǎn)、標(biāo)簽激活功率、標(biāo)簽激活磁場(chǎng)強(qiáng)度、s11回波損耗、標(biāo)簽天線阻抗等。此系統(tǒng)支持的uhf測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有epc class1 gen2、iso/iec18000-6c標(biāo)準(zhǔn)、gb/t 29768標(biāo)準(zhǔn)和gjb 7377.1標(biāo)準(zhǔn)；支持的hf/nfc測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有iso 15693、iso 14443a/b、sony felica、iso 18000-3m3。 目前tagformance pro測(cè)試系統(tǒng)已廣泛應(yīng)用于世界各地實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、標(biāo)簽設(shè)計(jì)生產(chǎn)廠、系統(tǒng)集成商與rfid終端用戶。該測(cè)試系統(tǒng)將rfid測(cè)試技術(shù)能力提升到一個(gè)新水平，國外近百篇科技出版物談及tagformance標(biāo)簽性能測(cè)試系統(tǒng)和其它voyantic產(chǎn)品。 tagformancepro測(cè)試系統(tǒng)中的uhf測(cè)試包含多款測(cè)試套件，包括標(biāo)簽設(shè)計(jì)套件、應(yīng)用場(chǎng)景分析套件、協(xié)議測(cè)試套件、tipp分級(jí)測(cè)試套件等。其中標(biāo)簽設(shè)計(jì)主要用于標(biāo)簽設(shè)計(jì)和標(biāo)簽選型？筛鶕(jù)測(cè)試的結(jié)果，對(duì)比模擬與實(shí)測(cè)的結(jié)果，實(shí)時(shí)判定標(biāo)簽各項(xiàng)性能，確定標(biāo)簽改進(jìn)方向；可在700mhz~1200mhz寬頻帶測(cè)試，找出最佳工作頻點(diǎn)；可對(duì)比標(biāo)簽在不同封裝形式下的性能變化；可分析標(biāo)簽在當(dāng)前拼點(diǎn)下的有效識(shí)讀距離及受限因素；可配合專用測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)，測(cè)量標(biāo)簽二維輻射方向圖；可研究讀寫器性能的變化對(duì)識(shí)讀距離的影響；可通過觀察反響散射原始數(shù)據(jù)，研究標(biāo)簽反向散射特性。標(biāo)簽應(yīng)用場(chǎng)景分析套件用于測(cè)試商品標(biāo)簽在現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用環(huán)境下的性能（多標(biāo)簽堆疊場(chǎng)景、高速場(chǎng)景等）。此套件支持多標(biāo)簽性能影響分析，及單標(biāo)簽性能實(shí)時(shí)測(cè)量；可測(cè)試群環(huán)境下激活特定位置標(biāo)簽所需要的發(fā)射功率及接收反向散射功率；可分析實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景下讀寫器天線的定位；可結(jié)合群標(biāo)簽管理器，動(dòng)態(tài)跟蹤特定標(biāo)簽在應(yīng)用場(chǎng)景中的響應(yīng)情況；可分析應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)干擾信號(hào)，排除干擾。協(xié)議測(cè)試套件是測(cè)試標(biāo)簽的協(xié)議是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求，同時(shí)該功能也可以通過截獲時(shí)域上的通信交互過程，獲得時(shí)序參數(shù)t1與t2值。tipp分級(jí)測(cè)試套件可在實(shí)驗(yàn)室中即可模擬出物流業(yè)、零售業(yè)等應(yīng)用行業(yè)的典型場(chǎng)景。在各類場(chǎng)景中，圍繞標(biāo)簽最小激活功率、標(biāo)簽反向功率、多標(biāo)簽性能及方向性等關(guān)鍵指標(biāo)，開展三維測(cè)試。 tagformancepro測(cè)試系統(tǒng)中的hf/nfc測(cè)試包含主動(dòng)閾值測(cè)試、無源測(cè)試、負(fù)載調(diào)制測(cè)試和標(biāo)簽識(shí)讀距離測(cè)試四類測(cè)試項(xiàng)目。主動(dòng)閾值測(cè)試是測(cè)量標(biāo)簽在不同發(fā)射頻率中處于激活臨界狀態(tài)下的性能特性，包括激活功率、磁場(chǎng)強(qiáng)度、負(fù)載調(diào)制和識(shí)讀距離的測(cè)量，可迅速確定標(biāo)簽的最佳工作頻點(diǎn)。無源測(cè)試可不用激活標(biāo)簽來測(cè)試hf天線的性能參數(shù)，主要功能包括對(duì)s11、阻抗、電阻、電抗、標(biāo)準(zhǔn)化阻抗、標(biāo)準(zhǔn)化電阻、標(biāo)準(zhǔn)化電抗、反射系數(shù)大小和反射系數(shù)相位的測(cè)量，可幫助研究hf標(biāo)簽天線的不同設(shè)計(jì)參數(shù)對(duì)標(biāo)簽性能的影響。負(fù)載調(diào)制測(cè)試是測(cè)量標(biāo)簽在不同發(fā)射功率、電場(chǎng)強(qiáng)度下標(biāo)簽返回的負(fù)載調(diào)制強(qiáng)度。該測(cè)試可以研究分析不同hf標(biāo)簽天線設(shè)計(jì)對(duì)標(biāo)簽負(fù)載調(diào)制強(qiáng)度的影響，以及幫助選擇hf標(biāo)簽是否滿足實(shí)際應(yīng)用要求。標(biāo)簽識(shí)讀距離是用來觀察標(biāo)簽在實(shí)際應(yīng)用中的性能，這個(gè)測(cè)試項(xiàng)目配合專用測(cè)試設(shè)備，自動(dòng)控制標(biāo)簽和天線間的工作距離，在每個(gè)距離點(diǎn)上測(cè)試其負(fù)載調(diào)制大小，這樣可以直觀看出標(biāo)簽在不同識(shí)讀距離下負(fù)載調(diào)制強(qiáng)度，以及標(biāo)簽工作距離是否滿足實(shí)際應(yīng)用需求。 .中科國技信息系統(tǒng)___tagformance pro測(cè)試系統(tǒng) rfid測(cè)試系統(tǒng) 北京中科國技信息系統(tǒng)有限公司 |
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