| 日本JIMA RT RC-02B分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡 |
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價(jià)格：100 元(人民幣) | 產(chǎn)地：日本 |
| 最少起訂量：1套 | 發(fā)貨地：深圳 | |
| 上架時(shí)間：2020-03-31 17:54:05 | 瀏覽量：545 | |
深圳市凈康科技有限公司
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JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。 JIMA RT RC-02B分辨率測(cè)試卡 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm 芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm 圖案布局：L型 線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案, 0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm, 2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm JIMA RT RC-04 X射線分辨率測(cè)試卡 JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡  測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm 圖案布局：T型 （3-10μm） I 型 （15-50μm） 線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案, 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型） 15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)    JIMA RT RC-05 X射線分辨率測(cè)試卡 JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm 芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm 圖案布局：T型 線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案, 0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm, 0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm, JIMA分辨率測(cè)試卡,JIMA RT RC-02X射線分辨率測(cè)試卡 JIMA RT CT-01 分辨率測(cè)試卡（專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試） 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 圖案布局：T型 線/空間尺寸：5種規(guī)格圖案, 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm |
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