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產品簡介
涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭:
詳情介紹
涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 | 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | | MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | | 應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 | | 每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 | | 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | - | 1 | 500 | 500 | | 數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | | MINITEST統(tǒng)計計算功能 | | 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ | | 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ | | 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ | | 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ | | 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù) | - | - | - | √ | | 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | - | - | √ | √ | | 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ | | 其他功能 | | 透過涂層進行校準(CTC) | - | √ | √ | √ | | 在粗糙表面上作平均零校準 | √ | √ | √ | √ | | 利用計算機進行基礎校準 | √ | √ | √ | √ | | 補償一個常數(shù)(Offset) | - | - | √ | √ | | 外設的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ | | 保護并鎖定校準設置 | √ | √ | √ | √ | | 更換電池是存儲數(shù)值 | √ | √ | √ | √ | | 設置極限值 | - | - | √ | √ | | 公英制轉換 | √ | √ | √ | √ | | 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | - | - | √ | √ | | 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | - | - | √ | √ | | 浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 | √ | √ | √ | √ | | 組內單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ | | 連續(xù)測量模式中顯示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端
分辨率 | 誤差 | zui小曲率
半徑(凸/凹) | zui小測量
區(qū)域直徑 | zui小基
體厚度 | 探頭尺寸 | | 磁
感
應
法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm | | F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | | F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | | F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | | F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | | F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | | F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | | 兩
用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm | | FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm
N50μm | φ21x89mm | | FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm | | 電
渦
流
法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm | | N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | | N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | | N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | | N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | | N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | | N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | | CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | | 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
探頭圖示
 | FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|  | FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
|  | F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
|  | F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|  | F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
|  | F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|  | F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
|  | F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
|  | F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
|  | N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|  | N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
|  | N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|  | N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|  | N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|  | N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|  | N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |  | CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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