| 高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱 |
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高溫試驗(yàn)?zāi)康? 高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱的目的是確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。高溫試驗(yàn)?zāi)芤l(fā)產(chǎn)品哪些故障。 功能失效:系統(tǒng)宕機(jī)、重啟、信號錯誤。 性能降級:運(yùn)行速度變慢、輸出功率下降、信號失真。 物理損壞: 塑料外殼軟化、變形、熔化; 液晶顯示屏變黑、出現(xiàn)殘影; 電池鼓包、漏液,甚至有起火風(fēng)險; 焊點(diǎn)融化或開裂; 元器件脫焊、損壞。 高溫試驗(yàn)箱測試參數(shù) 高溫試驗(yàn)應(yīng)規(guī)定相應(yīng)的試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)持續(xù)時間,試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)持續(xù)時間從下列數(shù)值中選。 (1)試驗(yàn)溫度:+30 ℃、+35 ℃、+40 ℃、+50 ℃、+55 ℃、+60 ℃、+65 ℃、+70 ℃、+85 ℃、+100 ℃、+125 ℃、+155 ℃、+175 ℃、+200 ℃、+250 ℃、+315 ℃、+400 ℃、+500 ℃、630 ℃、+800 ℃、+1000 ℃。 (2)持續(xù)時間:2 h、16 h、72 h、96 h、168 h、240 h、336 h、1000 h。 4、高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱項目 (高溫啟動試驗(yàn) 受試產(chǎn)品在溫度開始穩(wěn)定后對受試產(chǎn)品進(jìn)行通電工作并運(yùn)行正常。 示例:受試產(chǎn)品在+50℃條件下穩(wěn)定2小時后,上電工作2小時,試驗(yàn)箱恢復(fù)至常溫+25℃保持1小時,試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。 高溫工作試驗(yàn) 受試產(chǎn)品在整個低溫試驗(yàn)期間連續(xù)通電工作并運(yùn)行正常。 示例:受試產(chǎn)品在+50℃條件下,連續(xù)通電工作運(yùn)行4小時,試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。 高溫貯存試驗(yàn) 受試產(chǎn)品在試驗(yàn)期間不通電,試驗(yàn)結(jié)束后通電測試功能。 示例:受試產(chǎn)品在+50℃條件下,斷電貯存24小時,試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。 高溫試驗(yàn)檢測結(jié)果判定 試驗(yàn)期間或試驗(yàn)后,受試產(chǎn)品功能性能是否發(fā)生改變,受試產(chǎn)品外觀是否發(fā)生異常。 高溫試驗(yàn)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn) GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》。 若需要高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱可以咨詢唯克檢測設(shè)備,我司提供完整的試驗(yàn)箱資料
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